Michael Schneider erhielt den Preis für seine wichtigen Beiträge in drei verschiedenen Bereichen im Zusammenhang mit Beugungsexperimenten mit weicher Röntgenstrahlung am European XFEL.
Die von Freie-Elektronen-Lasern erzeugten Röntgenpulse werden typischerweise auf wenige Mikrometer fokussiert, um extreme Röntgenintensitäten an der Probe im wissenschaftlichen Instrument zu erreichen. In seiner Doktorarbeit entwickelte Michael Schneider einen Ansatz zur genauen Beobachtung des Strahlprofils auf einer Festkörperprobe, die in einem Beugungsexperiment mit Röntgenpulsen bestrahlt wird. Das Beugungsmuster wird dabei in Transmission auf einem 2D-Detektor aufgenommen. Michael Schneiders Ansatz erlaubt es nun, gleichzeitig mit dem Beugungsbild der zu untersuchenden Probe ein Bild der räumlichen Intensitätsverteilung des Röntgenpulses auf der Probe aufzunehmen – und zwar mit dem selben Detektor. Dieser Ansatz ermöglicht quantitative Untersuchungen von Effekten, die bei sehr hohen Röntgenintensitäten in Beugungsexperimenten auftreten. Als eigenständiges und einfach zu nutzendes Werkzeug wird sein „Curved Grating Monitor“-Ansatz nun routinemäßig zur Abbildung und Optimierung des Röntgenfokus an Instrumenten für weiche Röntgenstrahlung an verschiedenen Synchrotronstrahlungsquellen und Freie-Elektronen-Lasern weltweit eingesetzt, insbesondere auch am Spectroscopy and Coherent Scattering (SCS) Instrument des European XFEL.